Deux nouveaux équipements, un spectromètre de masse TOF-SIMS – avec des capacités d’analyses uniques en Suisse – et une microsonde XPS sont en cours d’installation par nos scientifiques et l’équipe de Physical Electronics.

Ces techniques complémentaires permettent l’identification quantitative et extrêmement sensible des éléments et des molécules, avec des capacités d’imagerie et de profilage en profondeur.

Laboratoires académiques et industriels pourront en bénéficier. Restez connectés !