Le laboratoire de croissance des cristaux et de traitement des matériaux vient d’acquérir un nouveau diffractomètre à rayons X de paillasse édition AERIS Research de PANalytical, particulièrement performant pour l’identification rapide de phases et adapté aux environnements multi-utilisateurs. Le diffractomètre est configuré en géométrie de Bragg-Brentano avec un rayon de 145 mm. Grâce à la source de rayons X Cu LFF Empyrean et au détecteur de ligne PIXcel-1D, ce système est rapide et précis.

Le traitement des données est effectué par le logiciel HighScore, qui inclut un algorithme de correspondance de recherche utilisant des données de pic et de profil, des options d’analyse de profil de ligne, des outils d’estimation quantitative de phase et est compatible avec les bases de données de référence.