Evènement

Séminaire XPS et TOF-SIMS

Le LTA ouvre une plateforme d’analyse et imagerie chimique de haute performance, avec des caractéristiques uniques en Suisse.

Jeudi 14 Novembre 2019 à 10h30

Ecole de physique, 24 quai E.-Ansermet, Genève
Grand auditoire

Notre plateforme combine les expertises dans le domaine de l’identification moléculaire et de la chimie des surfaces, avec deux équipements de pointe: un spectromètre de masse PHI nanoTOF II TOF-SIMS avec imagerie MS/MS  et une microsonde PHI VersaProbe III XPS à balayage.

Laboratoires académiques et industriels, peuvent bénéficier de ces équipements et du savoir-faire scientifique de cette plateforme, pour relever leurs défis technologiques dans une multitude de secteurs d’activités.

Ces deux techniques complémentaires permettent notamment une analyse quantitative inégalée des éléments et molécules et représentent un véritable atout pour la recherche et le soutien à l’innovation, à l’échelle régionale et nationale.

Venez découvrir le potentiel de cette plateforme unique en Suisse lors de ce séminaire. Des experts seront disponibles pour vous présenter le potentiel des techniques de XPS et de TOF-SIMS dans votre domaine d’activité et répondre à vos questions. Un rendez-vous personnalisé associé à une visite du laboratoire pourra être pris pour discuter de vos projets.

Programme

10h30

Accueil et café

10h45

Présentation de la plateforme d’analyse et imagerie chimique de haute performance

Prof. Christoph Renner
Professeur à l’Université de Genève et président du LTA

11h00

Advances in  XPS and TOF-SIMS for Surface Chemical Analysis

Dr. Scott R. Bryan
Président de Physical Electronics USA

plus d'info sur Scott Bryan

Scott earned a B.S. degree in Chemistry from the University of Minnesota in 1982, he went on to graduate school at The University of North Carolina in Chapel Hill where he received his Ph.D. in Analytical Chemistry in 1986 under the direction of Professor Richard Linton.  His dissertation was on the development of microcomputer based digital imaging system for extending SIMS to 3D elemental analysis of materials.

Upon graduation, he joined British Petroleum in Ohio as team leader of the Surface Analysis Group.  At BP America he used Auger, XPS, and SIMS to study ceramics, catalysts, polymers, and minerals.  He left BP at the end of 1993 to join Physical Electronics to work on the commercialization of the first PHI TOF-SIMS.  In 2008 he was appointed Vice President and then in 2010 promoted to President of PHI responsible for all US operations.  Over the past 30 years Scott has published 50 peer reviewed papers and made numerous presentations at both national and international conferences.

12h00

Premiers résultats de notre équipe

Dr. Siobhan McKeown & Dr. Andras Kiss
Scientifiques responsables de la plateforme

12h30

Lunch et discussions

13h30

Démonstration en direct

Nous prendrons le controle à distance de notre TOF-SIMS pour une démonstration interactive en temps réel.

 

Inscription

Inscriptions ouvertes jusqu'au 8 Novembre 2019

Contact

Une question sur l’évènement ?

Envoyez un e-mail à info@lta-geneve.ch

Une question sur la plateforme ?

Rendez vous ici

Une question sur le LTA ?

Contactez l’un de nos agents de liaison et suivez nous sur les réseaux sociaux

 

Localisation