Evènement
Séminaire XPS et TOF-SIMS
Le LTA ouvre une plateforme d’analyse et imagerie chimique de haute performance, avec des caractéristiques uniques en Suisse.
Jeudi 14 Novembre 2019 à 10h30
Ecole de physique, 24 quai E.-Ansermet, Genève
Grand auditoire
Notre plateforme combine les expertises dans le domaine de l’identification moléculaire et de la chimie des surfaces, avec deux équipements de pointe: un spectromètre de masse PHI nanoTOF II TOF-SIMS avec imagerie MS/MS et une microsonde PHI VersaProbe III XPS à balayage.
Laboratoires académiques et industriels, peuvent bénéficier de ces équipements et du savoir-faire scientifique de cette plateforme, pour relever leurs défis technologiques dans une multitude de secteurs d’activités.
Ces deux techniques complémentaires permettent notamment une analyse quantitative inégalée des éléments et molécules et représentent un véritable atout pour la recherche et le soutien à l’innovation, à l’échelle régionale et nationale.
Venez découvrir le potentiel de cette plateforme unique en Suisse lors de ce séminaire. Des experts seront disponibles pour vous présenter le potentiel des techniques de XPS et de TOF-SIMS dans votre domaine d’activité et répondre à vos questions. Un rendez-vous personnalisé associé à une visite du laboratoire pourra être pris pour discuter de vos projets.
Programme
10h30 |
Accueil et café |
10h45 |
Présentation de la plateforme d’analyse et imagerie chimique de haute performanceProf. Christoph Renner |
11h00 |
Advances in XPS and TOF-SIMS for Surface Chemical AnalysisDr. Scott R. Bryan |
plus d'info sur Scott Bryan
Scott earned a B.S. degree in Chemistry from the University of Minnesota in 1982, he went on to graduate school at The University of North Carolina in Chapel Hill where he received his Ph.D. in Analytical Chemistry in 1986 under the direction of Professor Richard Linton. His dissertation was on the development of microcomputer based digital imaging system for extending SIMS to 3D elemental analysis of materials.
Upon graduation, he joined British Petroleum in Ohio as team leader of the Surface Analysis Group. At BP America he used Auger, XPS, and SIMS to study ceramics, catalysts, polymers, and minerals. He left BP at the end of 1993 to join Physical Electronics to work on the commercialization of the first PHI TOF-SIMS. In 2008 he was appointed Vice President and then in 2010 promoted to President of PHI responsible for all US operations. Over the past 30 years Scott has published 50 peer reviewed papers and made numerous presentations at both national and international conferences.
12h00 |
Premiers résultats de notre équipeDr. Siobhan McKeown & Dr. Andras Kiss |
12h30 |
Lunch et discussions |
13h30 |
Démonstration en directNous prendrons le controle à distance de notre TOF-SIMS pour une démonstration interactive en temps réel. |
Inscription
Inscriptions ouvertes jusqu’au 8 novembre 2019
Contact
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